视频字幕
电位诱导衰减,简称PID,是太阳能电池组件中一种重要的可靠性问题。当太阳能电池模组串联后,会在接地框架和电池之间产生600到1000伏的高电压。这个高电压会驱动前玻璃中的钠离子通过封装材料扩散到电池内部,在界面处积累形成导电通道,最终导致泄漏电流和性能衰减。
PID现象会对太阳能电池造成多方面的性能损害。主要表现为开路电压显著下降,从初始的0.658伏降至0.572伏;短路电流和填充因子也会相应减少;整体转换效率出现明显衰减。这些参数的恶化会导致输出功率大幅损失,同时产生不必要的泄漏电流,严重影响太阳能电池的长期可靠性和经济效益。
针对PID问题,目前主要有两种解决方案。方案一是调整减反射层的折射率,虽然工艺相对简单,但会影响电池对短波长光的吸收,降低光电流。方案二是插入离子阻挡层,可以放置在玻璃与封装材料之间,或减反射层与电池之间。常用材料包括三氧化二铝、二氧化钛和二氧化硅。其中三氧化二铝因其优异的离子阻挡性能和高光透过率,成为最有前景的选择。
三氧化二铝阻挡层采用原子层沉积工艺制备。为确保非晶结构,避免晶界离子扩散问题,工艺温度设定为150摄氏度,使用三甲基铝和水作为前驱体。每个沉积循环的生长速率为1.3埃,可精确控制薄膜厚度。研究制备了10纳米、20纳米和30纳米三种不同厚度的薄膜。原子层沉积工艺具有厚度控制精确、均匀性优异、低温制备等优势,能够保证薄膜的非晶结构特征。
制备的三氧化二铝薄膜通过多种方法进行了全面表征。X射线衍射确认了薄膜的非晶结构,避免了晶界离子扩散问题。扫描电镜观察显示表面形貌均匀致密,厚度分布一致。紫外可见光透射光谱测试结果表明,薄膜在200到1000纳米波长范围内平均透过率超过94%,在可见光区域表现尤为优异。电容电压测试显示薄膜具有负固定电荷特性,能够提供良好的表面钝化效果,这对太阳能电池应用非常有利。